| POLOS 單點測量裝置 FR-ES 370 - 1020 nm 光譜范圍 |
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價格:26320 元(人民幣) | 產地:德國 |
| 最少起訂量:1件 | 發貨地:北京順義區 | |
| 上架時間:2024-09-03 17:47:40 | 瀏覽量:175 | |
北京漢達森機械技術有限公司
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| 經營模式:進出口商 | 公司類型:私營有限責任公司 | |
| 所屬行業:閥門 | 主要客戶:外企貿易公司工廠直供商 | |
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POLOS 單點測量裝置 FR-ES 370 - 1020 nm 光譜范圍
polos 單點測量裝置
獨特的微型化解決方案,用于對透明和半透明的單層薄膜或薄膜堆疊進行精確和精確的非破壞性層厚測量。保證高度準確和可重復的測量。
FR-ES 370 - 1020 nm 光譜范圍
FR-ES 可用于各種不同的應用,例如:薄膜厚度、折射率、顏色、透射率、反射率等等。有三種配置可供選擇:可見光/近紅外 (370 - 1020 nm)、NIR-N1 (850 - 1050 nm)、NIR (900 - 1700 nm)。 大學和研究實驗室 半導體 生命科學 聚合物和光刻膠特性 化學測量 介電特性 生物 醫學 硬化涂層, 陽極氧化, 金屬零件加工 光學鍍膜 非金屬薄膜
POLOS 單點測量裝置 FR-ES 370 - 1020 nm 光譜范圍 |
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