概述
XIK-SPA射頻導納物位控制器是用于檢測料倉、料槽或其它容器中帶粘附性的液體、固體顆粒、粉 塵、其它混合漿料等料位的位式控制儀表。亦可用于兩種不同液體之間界面測量，如油水界面測量。
XIK-SPA射頻導納物位控制器具有校準簡單快捷、產品性能穩定、各種型號通用性強、安裝方便、 外形美觀等優點。可廣泛用于石油、化工、冶金、電力、醫藥、食品、造紙、建材等工業領域。且控制 器可與 PLC 可編程控制器或 DCS 集散控制系統配套使用，實現工藝流程的自動檢測和自動控制。
工作原理
1.XIK-SPA 射頻導納物位控制器是利用高頻技術，由電子線路產生一個小功率射頻信號于探頭上， 探頭作為敏感元件，將來自物位介電常數引起的信號變化反饋給電子線路；由于這些變化包括電容量和 電導量的變化，因而電子線路中處理的是電抗（容抗和阻抗的綜合變化的信號）信號。
2.電抗的變化又引起了極棒上高頻信號的相位發生變化。因此極棒上的高頻信號與電子線路中的基 準信號的相位差也隨之發生變化，該變化經處理后，驅動輸出電路發出報警信號，從而達到檢測料倉有 無物料。
3.XIK-SPA 射頻導納物位控制器采用三端 Cote–Shield 技術，排除探測極棒上粘附物料對控制作 用的影響。電子線路中產生的高頻信號，一路直接送往探測極棒上，另一路經過一個RF電壓跟隨器送往 防粘附保護套上。其大小相位都是與加在探測極棒上的信號相同。當有物料粘附在探頭上時，由于保護 套與倉壁之間構成一個電容，所以加在保護套上的高頻信號就會使該電容趨向飽和，以致探頭上的高頻 信號就無法通過粘附層流入容器壁，當容器內大量物料接觸探頭時，探頭上的電流繞過飽和區流向容器 壁，從而產生有物料存在的信號。
主要技術參數
工作電源：24VDC；220VAC
相對濕度：≤85%
輸出信號：兩組常開、常閉觸點
觸點容量：AC220V，5A; DC24V，3A
環境溫度范圍：-40℃～+60℃
介質溫度：-180℃～+500℃
延遲時間：0.2S（0.2～30S 可調）
防護等級：IP65
探頭材質：316 不銹鋼、四氟乙烯、高溫塑料、陶瓷
防爆等級：ExdIIBT4
連接方式：3/4″NPT 螺紋；3/4″管螺紋；法蘭（可選）；1–1/ 2″管螺紋
安裝方式：頂裝、側裝
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