| 芯片車規級AECQ100認證測試；認證技術咨詢、測試服務、失效分析 |
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價格： 元(人民幣) | 產地：本地 |
| 最少起訂量：1個 | 發貨地：本地至全國 | |
| 上架時間：2021-06-10 09:03:59 | 瀏覽量：290 | |
廣州廣電計量檢測股份有限公司（總部）
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| 經營模式：商業服務 | 公司類型：國有企業 | |
| 所屬行業：檢測服務 | 主要客戶：車廠、生產商 | |
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| 聯系人:張海鵬 (先生) | 手機:18620908348 |
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| 郵箱:3050677168@qq.com | 地址:廣東省廣州市天河區黃埔大道西平云路163號 |
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汽車芯片IC車規AEC-Q100認證 AEC-Q100認證 AEC-Q100對IC的可靠性測試可細分為加速環境應力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學參數驗證、缺陷篩查、包裝完整性試驗，且需要根據器件所能承受的溫度等級選擇測試條件。 需要注意的是，第三方難以獨立完成AEC-Q100的驗證，需要晶圓供應商、封測廠配合完成，這更加考驗對認證試驗的整體把控能力。廣電計量將根據客戶的要求，依據標準對客戶的IC進行評估，出具合理的認證方案，從而助力IC的可靠性認證。 如果成功完成根據本文件各要點需要的測試結果，那么將允許供應商聲稱他們的零件通過了AEC Q100認證。供應商可以與客戶協商，可以在樣品尺寸和條件的認證上比文件要求的要放寬些，但是只有完成要求實現的時候才能認為零件通過了AEC Q100認證。 Tier 1:OEM車用模塊/系統廠,車用電子組件的End-User. Tier 2:使用/制造車用電子組件的廠商,車用電子組件的Supplier. Tier 3:提供支持與服務給予電子行業,車用電子的外包商. AECQ100認證測試周期： 3-4個月，提供全mian的認證計劃、測試、報告等服務。 AECQ100認證測試地點： 廣電計量廣州總部、廣電計量上海試驗室。 測試元器件失效分析項目： ①形貌分析技術：體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線透視、聲學掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。 ②成分檢測技術：X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質譜SIMS、光譜、色譜、質譜。 ③電分析技術：I-V曲線、半導體參數、LCR參數、集成電路參數、頻譜分析、ESD參數、電子探針、機械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。 ④開封制樣技術：化學開封、機械開封、等離子刻蝕、反應離子刻蝕、化學腐蝕、切片。 ⑤缺陷定位技術：液晶熱點、紅外熱像、電壓襯度、光發射顯微像、OBIRCH。 廣州廣電計量檢測股份有限公司（GRGT）失效分析實驗室AEC-Q技術團隊，執行過大量的AEC-Q測試案例，積累了豐富的認證試驗經驗，可為您提供更專業、更可靠的AEC-Q認證試驗服務。 芯片（IC）AEC-Q100認證測試業務咨詢及技術交流： GRGT李工186-2090+8348； zhanghp grgtest.com 廣電計量檢測（GRGT）-芯片測試能力： 芯片可靠性驗證(RA)： 芯片級預處理(PC)&MSL試驗、J-STD-020&JESD22-A113； 高溫存儲試驗(HTSL),JESD22-A103； 溫度循環試驗(TC),JESD22-A104； 溫濕度試驗(TH/THB),JESD22-A101； 高加速應力試驗(HTST/HAST),JESD22-A110； 高溫老化壽命試驗(HTOL),JESD22-A108； 芯片靜電測試(ESD)： 人體放電模式測試(HBM),JS001； 元器件充放電模式測試(CDM),JS002； 閂鎖測試(LU),JESD78； 芯片IC失效分析(FA)： 光學檢查(VI/OM)； 掃描電鏡檢查(FIB/SEM) 微光分析定位(EMMI/InGaAs)； OBIRCH； Micro-probe; 聚焦離子束微觀分析(FIB)； 彈坑試驗(cratering)； 芯片開封(decap)； 芯片去層(delayer)； 晶格缺陷試驗(化學法)； PN結染色/碼染色試驗； 推拉力測試(WBP/WBS)； 紅墨水試驗； PCBA切片分析(X-section)； |
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