| 芯片高溫老化壽命試驗(yàn)（HTOL），芯片可靠性驗(yàn)證：HTOL、HAST、HTSL、TC |
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價(jià)格： 元(人民幣) | 產(chǎn)地：本地 |
| 最少起訂量：1個(gè) | 發(fā)貨地：本地至全國 | |
| 上架時(shí)間：2021-06-10 09:03:07 | 瀏覽量：1348 | |
廣州廣電計(jì)量檢測股份有限公司（總部）
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| 經(jīng)營模式：商業(yè)服務(wù) | 公司類型：國有企業(yè) | |
| 所屬行業(yè)：檢測服務(wù) | 主要客戶：車廠、生產(chǎn)商 | |
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| 聯(lián)系人:張海鵬 (先生) | 手機(jī):18620908348 |
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| 郵箱:3050677168@qq.com | 地址:廣東省廣州市天河區(qū)黃埔大道西平云路163號 |
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芯片高溫老化壽命試驗(yàn)（HTOL） 高溫老化壽命試驗(yàn)(HTOL) 參考標(biāo)準(zhǔn)：JESD22-A108； 測試條件： For devices containing NVM,endurance preconditioning must be performed before HTOL per Q100-005. Grade 0:+150℃Ta for 1000 hours. Grade 1:+125℃Ta for 1000 hours. Grade 2:+105℃Ta for 1000 hours. Grade 3:+85℃Ta for 1000 hours. Vcc(max)at which dc and ac parametric are guaranteed.Thermal shut-down shall not occur during this test. TEST before and after HTOL at room,hot,and cold temperature. 廣州廣電計(jì)量檢測股份有限公司（GRGT）是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站，經(jīng)過50余年的發(fā)展，現(xiàn)已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計(jì)量檢測機(jī)構(gòu)，專注于為客戶提供計(jì)量、檢測、認(rèn)證以及技術(shù)咨詢與培訓(xùn)等專業(yè)技術(shù)服務(wù)，在計(jì)量校準(zhǔn)、可靠性與環(huán)境試驗(yàn)、元器件篩選與失效分析檢測、車規(guī)元器件認(rèn)證測試、電磁兼容檢測等多個(gè)領(lǐng)域的技術(shù)能力及業(yè)務(wù)規(guī)模處于國內(nèi)*水平。 GRGT目前具有以下芯片相關(guān)測試能力及技術(shù)服務(wù)能力： 芯片可靠性驗(yàn)證(RA)： 芯片級預(yù)處理(PC)&MSL試驗(yàn)、J-STD-020&JESD22-A113； 高溫存儲試驗(yàn)(HTSL),JESD22-A103； 溫度循環(huán)試驗(yàn)(TC),JESD22-A104； 溫濕度試驗(yàn)(TH/THB),JESD22-A101； 高加速應(yīng)力試驗(yàn)(HTSL/HAST),JESD22-A110； 高溫老化壽命試驗(yàn)(HTOL),JESD22-A108； 芯片靜電測試(ESD)： 人體放電模式測試(HBM),JS001； 元器件充放電模式測試(CDM),JS002； 閂鎖測試(LU),JESD78； TLP；Surge/EOS/EFT； 芯片IC失效分析(FA)： 光學(xué)檢查(VI/OM)； 掃描電鏡檢查(FIB/SEM) 微光分析定位(EMMI/InGaAs)； OBIRCH；Micro-probe; 聚焦離子束微觀分析(FIB)； 廣州廣電計(jì)量檢測股份有限公司（GRGT）失效分析實(shí)驗(yàn)室AEC-Q技術(shù)團(tuán)隊(duì)，執(zhí)行過大量的AEC-Q測試案例，積累了豐富的認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)，可為您提供更專業(yè)、更可靠的AEC-Q認(rèn)證試驗(yàn)服務(wù)。 GRGT團(tuán)隊(duì)技術(shù)能力： 集成電路失效分析、芯片良率提升、封裝工藝管控 集成電路競品分析、工藝分析 芯片級失效分析方案turnkey 芯片級靜電防護(hù)測試方案制定與平臺實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì) 靜電防護(hù)失效整改技術(shù)建議 集成電路可靠性驗(yàn)證 材料分析技術(shù)支持與方案制定 半導(dǎo)體材料分析手法 芯片測試地點(diǎn)：廣電計(jì)量-廣州總部試驗(yàn)室、廣電計(jì)量-上海浦東試驗(yàn)室。 芯片高溫老化壽命試驗(yàn)： GRGT張經(jīng)理186-2090+8348； zhanghp grgtest.com |
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