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BA-(L=500mm)射頻導(dǎo)納物位控制器/MicroSWITdt射頻導(dǎo)納物位計/LCS2000電除塵灰斗料位開關(guān)/WKL2000射頻導(dǎo)納料位儀倉罐連續(xù)測量 
特    性                                                                         
l 校準(zhǔn)簡單快捷、安裝方便、外形美觀
l 產(chǎn)品性能穩(wěn)定
l 防粘附（掛料）
l 各種型號通用性強(qiáng)，適用性廣泛
l 可與PLC可編程控制器或DCS集散控制系統(tǒng)配套使用，實(shí)現(xiàn)工藝流程的自動檢測和自動控制
產(chǎn)品描述                                                                        
射頻導(dǎo)納式物位控制器是利用高頻技術(shù)，由電子線路產(chǎn)生一個小功率射頻信號于探頭上，探頭作為敏感元件，將來自物位介電常數(shù)引起的信號變化反饋給電子線路；由于這些變化包括電容量和電導(dǎo)量的變化，因而電子線路處理的是容抗和阻抗的綜合變化信號；進(jìn)行處理后改變繼電器的輸出狀態(tài)。它是在原電容測量的基礎(chǔ)上改進(jìn)射頻導(dǎo)納測量技術(shù)，代表了當(dāng)今物位測量的新水平。


射頻導(dǎo)納式物位控制器是利用高頻技術(shù)，由電子線路產(chǎn)生一個小功率射頻信號于探頭上，探頭作為敏感元件，將來自物位介電常數(shù)引起的信號變化反饋給電子線路于這些變化包括電容量和電導(dǎo)量的變化，因而電子線路處理的是容抗和阻抗的綜合變化信號,采用相位檢測技術(shù)將這種變化檢測出來，進(jìn)行處理后改變繼電器的輸出狀態(tài)。它是在原電容測量的基礎(chǔ)上改進(jìn)為射頻導(dǎo)納測量技術(shù)，代表了當(dāng)今物位測量的新水平。可用于測量導(dǎo)電及不導(dǎo)電物體。常用有標(biāo)準(zhǔn)型、重型探頭型、耐高溫用陶瓷探頭型、堵料開關(guān)、堵煤開關(guān)等等。    射頻導(dǎo)納物位儀表是一種從電容式物位測量技術(shù)發(fā)展起來的，防掛料、更可靠、更準(zhǔn)確、適用性更廣的物位控制技術(shù)，射頻導(dǎo)納中的導(dǎo)納的含義為電學(xué)中阻抗的倒數(shù)，它由電阻性成分、電容性成分、電感性成分綜合而成。而射頻即發(fā)射高頻無線電波，所以射頻導(dǎo)納物位控制技術(shù)是通過用高頻無線電波測量被測介質(zhì)導(dǎo)納來實(shí)現(xiàn)物位測量。
    射頻導(dǎo)納技術(shù)與電容式技術(shù)*重要的區(qū)別在于測量量的多樣化和三電極技術(shù)。射頻導(dǎo)納測量量的多樣化在于不止是測電容量，還有電阻和電感量，是測量更加準(zhǔn)確。三電極技術(shù)包括電子單元和傳感器，在測量電極和地極之間加入屏蔽電極，將測量電極保護(hù)起來，不受掛料影響.