一、基本參數：
測試范圍：0.15-400μm；
重復性：<1%；
復現性：<2%；
系統誤差：<2%；
激光發生器：半導體激光器λ=650nm,功率>3mw；
光學系統：平行光束；
軟件運行環境：Windows95/98/xp/vista；
計算機接口：USB2.0；
電源電壓：85-264V/50HZ/60HZ；
測試原理：激光散射。
二、儀器特點：
1.多達82個采樣通道，提高了測試結果的分辨率；全部光電器件制作在同一個硅片上，保證了光電陣列的使用壽命；交叉扇形排列方式(本公司專利)，加大了受光面積，提高了靈敏度；
2.微量進樣方式，采用蠕動泵的全自動循環進樣方式，采用虹吸泵自動循環進樣方式，滿足不同客戶的測試需求,儀器標配MS-01微量進樣裝置；
3.全量程單鏡頭測量，所有的光學組件都固定在加固的基座上，光學系統出廠前緊固好，使儀器性能更加穩定；
4.采用進口半導體激光器，具有使用壽命長，光學參數穩定，不怕振動等一系列優點，連續工作時間長達24個小時，滿足用戶連續大負荷測試的要求。
三、適用領域：
各種非金屬粉：如重鈣、輕鈣、滑石粉、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤土、硅藻土、黏土等；
各種金屬粉：如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等；
其他粉體：如催化劑、水泥、磨料、醫藥、農藥、食品、涂料、染料、熒光粉、河流泥沙、陶瓷原料、化工原料、各種乳濁液等。
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