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?湘潭湘科STD-A介電常數測試儀

一、概述

介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數（ε），可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，Q值量程自動轉換，數值顯示等新技術，改進了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至最低，并保留了原Q表中自動穩幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。儀器遵從標準：GB/T?5594.4-2015?電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法　第4部分：介電常數和介質損耗角正切值測試方法。

二、儀器的技術指標

1．Q值測量

???a．Q值測量范圍：2～1023；

???b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；

c．標稱誤差

頻率范圍

10kHz～10MHz

固有誤差

≤5％±滿度值的2

工作誤差

≤7％±滿度值的2

頻率范圍

10MHz～70MHz

固有誤差

≤6％±滿度值的2

工作誤差

≤8％±滿度值的2

???2．電感測量范圍：1nH～8.4H

3．電容測量：

直接測量范圍

1～520p

主電容調節范圍

30～550pF

準確度

100pF以下±1pF；

100pF以上±1

???注：大于直接測量范圍的電容測量見使用方法。

???4．信號源頻率覆蓋范圍：

頻率范圍

10kHz～70MHz

CH1

10～99.9999kHz

CH2

100～999.999kHz

CH3

1～9.99999MHz

CH4

10～70MHz

頻率指示誤差

3×10-5±1個字

5．Q合格指示預置功能：預置范圍：5～1000

???6．Q表正常工作條件

???a.?環境溫度：0℃～ 40℃；

???b．相對濕度：<80％；

???c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

???7．消耗功率：約25W；

湘潭湘科STD-C介電常數測試儀，智能款

STD-C高頻絕緣材料介電常數介質損耗測試系統由測試裝置（夾具）、高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入STD-C的軟件模塊)、及電感器組成。依據國標GB/T?5594.4-2015?電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法　第4部分：介電常數和介質損耗角正切值測試方法、GB/T?1693-2007?硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定方法.GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的最佳解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過公式計算得到。使用STD-C數字Q表具有自動計算介電常數（ε）和介質損耗（tanδ）。

STD-C介電常數/介質損耗測試系統系統組成：

主機：高頻Q表

介電常數εr和介質損耗因數tanδ測試裝置：

樣品尺寸：固體：材料測量直徑 Φ38mm ；厚度可調 <15mm ；?

(極片可以定制)

電感組:

儀器配置：含STD-C測試主機1臺，樣品夾具1套，電感1組（10個）。選配液體杯可做液體材料的檢測。