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一、JIMA RT RC-05B詳細介紹：
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JIMA RT RC-05B是一款采用最新半導體光刻技術制作的微型分辨率測試卡。
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它用于校準和監控系統分辨率，確保微焦點或納米焦點X射線檢測系統獲得高質量的結果。
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JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米（3 μ m至50 μ m）的分辨率。這對應于6微米和100微米（6 μ m和100 μ m）之間的焦斑尺寸。

二、應用：
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修復 X 射線系統操縱器上的分辨率測試。選擇探測器、樣品和試管的距離，以實現高幾何放大倍率。
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選擇所需的 X 射線參數。將分辨率測試放置在管的前面，使線條圖案可見。使用操縱器移動測試圖，以便看到下一個較小的線對束。
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只要線條清晰可見，就繼續。焦點大小近似計算為小分辨率乘以 2。
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注意：盡量減少輻射的持續時間。在手術過程中關閉 X 射線。目標前面的熱量可能會損壞測試圖。

三、技術參數：
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狹縫尺寸：3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45 和 50 微米
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測試框架尺寸：40 x 30 x 3 mm (WxHxD)
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芯片尺寸：8 x 8 x 0.2 mm (WxHxD)
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吸收材料厚度 gt;1.0 μm 金
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Au Slit的數量為3行和2個空格
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寬度3至10 μm：T形布局
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寬度15至50 μm：I形布局L/S寬度
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L/S寬度：3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45、50 μm

圖片：